ANALYZER3內孔激光缺陷檢測系統是根據圓形孔內壁的反射光亮度的區別進行缺陷篩選。探頭前端發射出激光束在圓形孔內壁進行螺旋式的掃描時，光纖會接收到來自工件內壁的反射光。可以檢測氣孔,砂眼,劃痕等表面缺陷及孔內是否有異物,毛刺,卡削等問題.

那與傳統的視覺檢測有什么不同呢?可以從以下幾個方面來比較.

1)首先檢測方式不同

Analyzer激光探頭是點的激光螺旋式掃描.探頭以15000轉/分鐘的速度旋轉,Z軸移動,實現螺旋式掃描.

CCD視覺一般是面成相.

2)檢測精度不同

Analyzer激光檢測默認是0.2mm,極限是0.1mm,可以進行0.01mm的精細掃描

而CCD視覺是0.3mm以上

3)外部光源不同

Analyzer激光檢測缺陷裝置,不需要外部光源且不收光線影響.

CCD檢測需要穩定的光源打光，并且要求外部光線環境穩定

4)檢測內孔范圍

Analyzer激光檢測缺陷裝置φ4mm~200mm的孔徑，針對定制探頭最小可以檢測直徑3mm孔

而CCD視覺理論上小于鏡頭的孔徑，只能在孔外部進行多角度拍攝

5)檢測深度范圍

Analyzer激光檢測缺陷裝置可以測量200mm深，也可定制更長的探測頭，實現更深的內孔探測

CCD視覺一般能到30mm以內圖像有效

6)不良篩查

Analyzer激光檢測缺陷裝置可以根據設定條件，對掃描的缺陷尺寸進行OK和NG的判定,可根據掃描的缺陷數據，對工件的不良趨勢，刀具的壽命進行預判

CCD視覺對拍到的圖片進行缺陷的有或無的判定，無法量化每個缺陷的形狀和大小尺寸

7)漏判定率,過判定率

nalyzer激光檢測缺陷裝置可以進行精細掃描，極小的缺陷都可以看到，不會漏判定并根據客戶缺陷定義缺陷，極小概率過判定,不需要學習,直接按照要求設定閾值.

CCD視覺無法拍攝到極小的缺陷，輕微的缺陷容易漏判.受零件水漬或者清洗痕跡影響，過判定率很高,而且需要學習缺陷的種類和形狀.